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东芝的单片机品种齐全,4位机在家电领域有很大的市场,8位机主要有870系列和90系列。该类单片机允许使用慢模式,采用32K时钟时功耗降至10UA数量级,32位单片机采用MIPS 3000A RISC的CPU结构,面向VCD、数码相机、图像处理等市场。
8051单片机最早由Intel公司推出。之后,多家公司采购了8051内核,使得以8051为内核的MCU系列单片机在世界上产量最大,应用也最广泛。有人推测,8051最终可能会成为的标准MCU芯片。也是目前市面使用最多的单片机,所以需要学习单片机的朋友是必须要学校8051单片机的。
用C语言设计单片机是单片机发展和应用的必然趋势。如果使用 C 进行编程,最好熟悉正在使用的 C 编译器以实现最高效率。首先尝试每种 C 语言编译后对应汇编语言的语句行数,这样效率就可以一目了然了。每个C编译器都会有一定的差异,所以编译效率也会有所不同。传统的 C 编译器代码长度和执行时间仅比用汇编语言编写的相同功能级别长 5-20%。对于复杂且时间紧迫的项目,可以使用C语言,但前提是MCU系统需要使用C语言。虽然 C 语言是最常见的高级语言,但由于不同MCU厂商的C语言编译系统不同,特别是在一些特殊功能模块的运行中。所以如果不了解这些特性,那么调试问题将会非常困难很多,导致执行效率低于汇编语言。
如何减少单片机程序bug,系统运行时应考虑的超范围管理参数有:1.物理参数。这些参数主要是系统的输入参数,包括激励参数、采集过程中的运行参数和过程结束时的结果参数。合理设置这些边界,将超出边界的参数视为异常激励或异常响应进行错误处理。2.资源参数。这些参数主要是系统中电路、器件和功能单元的资源,如内存容量、存储单元长度、堆叠深度等。在编程中,不允许超出范围使用资源参数。3.应用参数。 这些应用参数往往表示为一些单片机和功能单元的应用条件。如E2PROM擦除次数和数据存储时间等应用参数限制。4.过程参数,指系统运行中参数的有序变化。
用什么方法来测试单片机系统的可靠性。在设计单片机系统时,针对不同的单片机系统产品会有不同的测试项目和方法,但有些是必须测试的:1、测试单片机软件功能的完整性。这是对单片机系统所有功能的测试,以测试软件是否编写正确和完整。2、上电和掉电测试。用户在使用中难免会遇到上电和掉电的情况,可以多次切换电源来测试单片机系统的可靠性。3、老化测试。测试单片机系统在长期工作条件下的可靠性。必要时可在高温、高压、强电磁干扰的环境中进行测试。4、ESD和EFT测试。各种干扰模拟器可用于测试单片机系统的可靠性。例如,使用静电模拟器测试单片机系统的抗静电ESD能力;使用浪涌噪声模拟器进行快速脉冲抗干扰EFT测试等。
PIC单片机的特点是不搞简单的堆叠功能,而是从实际出发,注重产品的性价比,依靠各种机型的开发来满足不同层次的应用需求。在实践中不同的应用对单片机的功能和资源有不同的要求。例如摩托车点火器需要小型单片机,I/O少,RAM和程序存储空间少,可靠性高。如果用40脚、功能强大的单片机,投资大,不方便用。PIC系列从低到高有几十种型号,满足各种需求。其中IC12C508单片机只有8个引脚,是目前世界上最小的单片机。
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